Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 12

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Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 12

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Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1

  • Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri.
  • Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati.
  • L'aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature.
  • Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente.
  • Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.

 

Modelli di supporto

  • Apple iPhone 12/12mini/12Pro/12Pro Max

Specifiche

  • Marca: XINZHIZAO
  • Modello: supporta la serie iPhone 12
  • Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1
  • Materiale: lega di alluminio
  • Peso lordo: 500 g

 

Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1

  • Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio
  • Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre
  • Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test
  • Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati

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