Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14

Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14

Attrezzi Tools
RCRF251044
3 Articoli
Sizes: 0
Box: 1
Color: 0
Certificate: 0
Comp. brand: XINZHIZAO
 

Sito protetto e certificato SSL

 

Spedizione 24/48 ore dal tuo ordine

 

Resi e Rimborsi garantiti

244,00 €
Tasse incluse
Quantità

Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14

RCRF251044.png

Dispositivo di prova a strati per scheda madre a doppia faccia XINZHIZAO: utilizzato per testare le funzioni della scheda madre prima dell'assemblaggio per ridurre i rischi di manutenzione e migliorare l'efficienza del lavoro di riparazione della serie iPhone X-14.

Dotato di posizioni dei pin progettate con precisione e tecnologia 3D avanzata, questo dispositivo garantisce che le schede madri siano collegate correttamente, fornendo i risultati dei test più accurati possibili. Il suo corpo in lega di alluminio e resiste alle alte temperature, rendendolo la scelta ideale sia per i professionisti che per gli amanti del fai da te.

Con questo strumento affidabile a portata di mano, puoi goderti la comodità e l'efficienza di testare contemporaneamente le schede madri di iPhone 2 pezzi. Ordina il tuo oggi e sperimenta la potenza e la precisione del nostro dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 XINZHIZAO!

 

Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1

  • Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri.
  • Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati.
  • L'aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature.
  • Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente.
  • Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.

Modelli di supporto

  • Apple iPhone 14/14 Plus/14 Pro/14 Pro Max

Specifiche

  • Marca: XINZHIZAO
  • Modello: supporta la serie iPhone 13
  • Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1
  • Materiale: lega di alluminio
  • Peso lordo: 500 g

 

Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1

  • Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio
  • Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre
  • Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test
  • Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati
XINZHIZAO
RCRF251044
3 Articoli

Nuovo accunt registrato

Hai già un account?
Entra O Resetta la password